|
🐜
|
XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report
293 auth.
R. Abela,
K. Witte,
A. Schwarz,
H. Redlin,
H. Eckoldt,
M. Hartrott,
K. Floettmann,
M. Fajardo,
V. Katalev,
T. Schilcher,
K. Tiedtke,
J. Baehr,
W. Singer,
E. Sombrowski,
S. Casalbuoni,
...
J. Hajdu,
J. Schneider,
G. Dipirro,
J. W. Kim,
R. Brinkmann,
B. Racky,
J. Chen,
A. Nienhaus,
H. Chapman,
H. Lierl,
E. Gadwinkel,
C. Gerth,
I. Robinson,
S. Choroba,
M. Maslov,
R. Wenndorff,
C. Pagani,
G. Tallents,
H. Grabosch,
E. Jaeschke,
R. Paparella,
P. Seller,
P. Piot,
I. Tsakov,
D. Kraemer,
A. Winter,
M. Sachwitz,
A. Cianchi,
H. Weddig,
W. Sandner,
C. Schroer,
T. Nuñez,
P. Castro,
O. Napoly,
Q. Kong,
S. Simrock,
U. Gensch,
H. Thom,
S. Bratos,
C. Altucci,
B. Dobson,
C. Masciovecchio,
H. Quack,
R. Kienberger,
M. Wendt,
M. Chergui,
O. Grimm,
A. Plech,
F. Obier,
B. Schmidt,
V. Sytchev,
J. Rossbach,
O. Kozlov,
M. Kuhlmann,
F. Senf,
A. Wolf,
J. Vogel,
J. Prenting,
F. Stephan,
E. Syresin,
D. Sertore,
W. Decking,
N. Baboi,
E. Vogel,
L. Juha,
A. Brandt,
E. Collet,
Y. Filipov,
I. Vartaniants,
J. Marangos,
N. Golubeva,
Raymond F. Smith,
S. Techert,
A. Fateev,
M. Wulff,
L. Haenisch,
M. Huening,
V. Honkimäki,
R. Treusch,
H. Ihee,
S. Prat,
B. Petrosyan,
E. Prat,
M. Tolan,
K. Honkavaara,
V. Tsakanov,
D. Ramert,
F. Ilday,
H. Schulte-schrepping,
W. Moeller,
R. Schuch,
A. Shabunov,
D. Sellmann,
J. Wark,
J. Schäfer,
F. Stulle,
P. Nicolosi,
M. Castellano,
D. Trines,
B. Fominykh,
M. Ross,
Y. Kim,
D. McCormick,
T. Tschentscher,
F. Toral,
K. Sytchev,
D. Reschke,
P. Anfinrud,
I. Will,
S. Toleikis,
H. Schlarb,
H. Brück,
L. Monaco,
E. Ploenjes,
S. Johnson,
P. Schmueser,
A. Aghababyan,
B. Krause,
J. Han,
N. Tesch,
K. Klose,
J. Feldhaus,
M. Nagl,
M. Staack,
R. Ischebeck,
V. Kocharyan,
R. Vuilleumier,
M. French,
K. Wittenburg,
G. Grübel,
S. Riemann,
L. Froehlich,
P. Wochner,
M. Dehler,
L. García-Tabarés,
M. Seidel,
S. Celik,
L. Lilje,
C. David,
H. Edwards,
F. Gel'mukhanov,
L. Poletto,
C. Bostedt,
H. Wabnitz,
C. Bressler,
H. Delsim-Hashemi,
H. Kapitza,
D. Kostin,
I. Bohnet,
R. Lange,
D. Richter,
A. Matheisen,
W. Kook,
P. Zambolin,
B. Griogoryan,
U. Hahn,
T. Wohlenberg,
V. Miltchev,
M. Schmitz,
L. Petrosyan,
S. Schreiber,
J. Havlíček,
J. Roensch,
E. Saldin,
J. J. Gareta,
O. Matzen,
S. Schrader,
L. Catani,
R. Kammering,
M. Jablonka,
D. Lipka,
F. Ullrich,
C. Blome,
B. Petersen,
M. Goerler,
M. Krasilnikov,
F. Loehl,
J. Jensen,
D. Proch,
H. Laich,
V. Balandin,
M. Tischer,
D. Charalambidis,
T. Garvey,
M. Luong,
V. Rybnikov,
M. Minty,
H. Sinn,
A. Cavalleri,
A. Variola,
T. Möller,
T. Weiland,
G. Poplau,
J. Becker,
M. Yurkov,
P. Zeitoun,
R. Bandelmann,
J. Pflueger,
R. wanzenberg,
M. Larsson,
Bernd Steffen,
A. Lindenberg,
D. Riley,
K. Rehlich,
H. Remde,
P. Michelato,
K. Hacker,
J. Krzywiński,
D. Pugachov,
R. Lee,
W. Graeff,
E. Schneidmiller,
D. Noelle,
A. Bolzmann,
B. Faatz,
J. Carneiro,
M. Kollewe,
N. Meyners,
C. Gutt,
H. Weise,
S. Duesterer,
A. Petrov,
F. Kaerntner,
M. Altarelli,
H. May,
O. Brovko,
V. Schlott,
V. Ayvazyan,
G. Neubauer,
J. Frisch,
G. Kube,
U. Rienen,
I. Zagorodnov,
A. Sorokin,
M. Clausen,
Y. Bozhko,
B. Stephenson,
H. Graafsma,
A. Maquet,
A. Zolotov,
M. Schloesser,
J. Sekutowicz,
E. Matyushevskiy,
M. Koerfer,
M. Howells,
M. Dohlus,
I. McNulty,
A. Oppelt,
F. Rosmej,
S. Khodyachykh,
R. Wichmann,
G. Amatuni,
J. Wojtkiewicz,
P. Meulen,
A. Eckhardt,
T. Limberg,
N. Mildner,
O. Krebs,
R. Reininger,
W. Koehler,
O. Hensler,
L. Staykov,
F. Schotte,
K. Jensch,
V. Ziemann,
E. Springate,
B. Keil,
P. Audebert,
H. B. Pedersen,
H. Danared,
C. Magne,
A. Leuschner,
B. Beutner,
R. Follath,
K. Zapfe,
T. Hott,
K. Ludwig,
M. Richter
|
9 |
2006 |
9
🐜
|
